Coherent® USB Strahlprofilmessgerät, 2/3" Sensorformat

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Strahldurchmesser, 1/e2 (mm):
Recommended: 0.20mm min, 6.0mm max
Mount:
C-Mount
Betriebstemperatur (°C):
-20 to 60
Sensorfläche, h x v (mm):
8.3 x 6.6
Größe (mm):
68.1 x 79.3 x 40.9 (with LDFP)
Gewicht (g):
110 (without cable)
Signal-Rausch-Verhältnis (dB):
>60
Verstärkung (dB):
Gain is factory set for optimum linear dynamic range, not user adjustable
Gamma:
1.00
Sensorformat:
2/3"
Betriebssystem:
Windows®
Rauschspitze (nW/cm2):
24 (at 632.8nm)
Spektralbereich:
300 - 1100nm (400 - 1100nm with LDFP)
Genauigkeit Größe:
±1% (typical), ±5% max (over entire spectral and dimensional range)
CW Sättigung:
5 mW/cm2 (at 632.8nm with LDFP)
Sättigung Puls:
0.15 mJ/cm2 (at 1.06μm with LDFP)
Pulstrigger:
TTL, rising or falling edge
Peakintensität:
Recommended: 75-95% of camera saturation
Zerstörschwelle, laut Design: Damage threshold for optical components varies by substrate material and coating. Click here to learn more about this specification.
32 mJ/cm2 @ 1.06μm without Low Distortion Faceplate
Bildrate:
27Hz (Live Mode), 10Hz (with calculations)
Belichtungszeit:
Fixed at 10ms

Konformität mit Standards

Konformitätszertifikat:

Beschreibung Produktfamilie

  • Digitale 10-Bit USB 2.0 Schnittstelle
  • 1.280 x 1.024, CMOS Sensor mit 6,7 μm Pixelabstand
  • Intuitiv bedienbare Software inklusive

Das Strahlprofilmessgerät besticht mit einem exzellenten Signal-Rausch-Verhältnis und linearer Empfindlichkeit bei der Messung von Größe und Gleichmäßigkeit von gepulsten und CW Laserstrahlen. Die neue BeamView 4.4 Software bietet TCP/IP Steuerung und eine NI LabVIEW™ Datenbank und ermöglicht so die effiziente und einfache Integration der Strahlmessung in jede Anwendung. Mögliche Funktionen / Messungen: Lagebestimmung des Strahlschwerpunkts, Lage der Leistungsspitze des Stahls, Strahlstabilität, gesamte relative Leistung / Strahlenergie, Spitzenleistung / Spitzenenergiedichte des Strahls, Strahldivergenz, Elliptizität, Messung der Gleichmäßigkeit der Strahlintensität, Gauß’sche Passform, Strahldurchmesser / Breite nach dem D4Sigma-Verfahren oder vom Anwender wählbarem Prozentsatz von Spitzen- zu Gesamtenergie.

 
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