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Testbilder zur Bildanalyse

DOF 5 - 15 Schärfentiefetester DOF 5 - 15 Schärfentiefetester
  • Testen Sie die Schärfentiefe Ihres bildgebenden Systems
  • Effektive Messung macht Berechnung überflüssig
Kalibrierplatte mit Punkten und Quadraten Kalibrierplatte mit Punkten und Quadraten
  • Zur Kalibrierung von Messsystemen
  • Positive und negative Muster auf Glas
  • Testbild mit hohem Kontrast für die Bildgebung mit Objekten von 0,5 bis 10 mm Durchmesser
  • NIST-Kalibrierungszertifikat ist im Lieferumfang enthalten
Zweiachsiges Mikrometer mit linearer Skala Zweiachsiges Mikrometer mit linearer Skala
  • Zweiachsiges Design
  • Englische und metrische Skala
  • Variante mit NIST-Zertifikat verfügbar
EO Mikrometer für die industrielle Bildverarbeitung EO Mikrometer für die industrielle Bildverarbeitung
  • NIST Zertifikat inklusive
  • Ideal zur schnellen Kalibrierung von bildverarbeitenden Systemen
  • Stabile Aufbewahrungsbox inklusive
EO Telezentrietester EO Telezentrietester
  • Wichtiges Werkzeug für jedes bildverarbeitende System mit dem Größen- und Abstandsmessungen durchgeführt werden
  • Kalibrierung von Objektiven aller Art
  • Deckt viele Vergrößerungen ab
Mikrometercharts zur Bildanalyse Mikrometercharts zur Bildanalyse
  • Entwickelt zur morphologischen Kalibrierung und Messung
  • 8 Testbereiche mit verschiedenen Mustern
  • NIST-zertifizierte Versionen verfügbar
Kodak Testbild Kodak Testbild
  • über 18 verschiedene Testmuster
  • Größe 8 ½" x 11"
Mikrometer mit Linien und Punkten Mikrometer mit Linien und Punkten
  • Kalibrierung von Pixeldithering
  • Linien und Punkte von 2 μm bis 100 μm
  • Variante mit NIST Zertifikat verfügbar
Multifunktionskalibrierplatten für niedrige Vergrößerungen Multifunktionskalibrierplatten für niedrige Vergrößerungen
  • Zur Kalibrierung von 0,08X bis 4X Systemen
  • Messung von MTF, Schärfentiefe, Auflösung, FOV und Verzeichnung
  • Kann zur Kalibrierung von transmittierenden oder reflektierenden Systemen eingesetzt werden
  • NIST-Zertifikat inklusive
Multifunktions-Kalibrierungsplatten für hohe Vergrößerungen Multifunktions-Kalibrierungsplatten für hohe Vergrößerungen
  • Entwickelt zur Kalibrierung von Messsystemen
  • Ideal für Mikroskope und Systeme der industriellen Bildverarbeitung
  • Beinhaltet konzentrische Kreise, Gitter, Strichgitter und lineare Mikroskala
  • Zwei Platten für verschiedene Vergrößerungen erhältlich
  • NIST zertifiziert
Mikrometer mit verschiedenen Gittern Mikrometer mit verschiedenen Gittern
  • Bestimmung der Verzeichnung stark vergrößernder Systeme
  • Variante mit NIST Zertifikat verfügbar
Strichplatten aus Opalglas Strichplatten aus Opalglas
  • Crossline, Index Grid, or Concenctric Circle Reticles
  • White Ivory Soda Lime Glass Substrates
  • 27mm Diameter Reticles
Positionierungsbühne mit digitalem Mikrometer Positionierungsbühne mit digitalem Mikrometer
  • 0.001mm Resolution Directly Readable Micrometer
  • Readout in Inches or Millimeters
  • Available with English or Metric Mounting Holes
Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten
  • Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
  • Image Sizes from 0.1 to 20mm
  • Available with NIST Traceable Data
Mikrometerplättchen Mikrometerplättchen
  • Reticle Scales Centered on Microscope Slides
  • Designed for Routine Calibration
  • 1 x 3" Slide Sizes

Alle Inhalte zum Thema Testbilder zur Bildanalyse  

Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets are used to evaluate or calibrate an image system's performance by measuring image quality standards such as resolution, contrast, or depth of field. Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets detail a range of shapes or patterns that measure the accuracy of an imaging system by viewing them with an imaging lens. Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets effectively determine the capabilities of an imaging system, allowing for accurate certification of performance as well as for establishing baseline standards for multiple systems working together.

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