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Testbilder zur Bildanalyse

Image Analysis Test Targets are used to evaluate or calibrate an image system's performance by measuring image quality standards such as resolution, contrast, or depth of field. Image Analysis Test Targets detail a range of shapes or patterns that measure the accuracy of an imaging system by viewing them with an imaging lens. Image Analysis Test Targets effectively determine the capabilities of an imaging system, allowing for accurate certification of performance as well as for establishing baseline standards for multiple systems working together.

DOF 5 - 15 Schärfentiefetester
DOF 5 - 15 Schärfentiefetester
  • Testen Sie die Schärfentiefe Ihres bildgebenden Systems
  • Effektive Messung macht Berechnung überflüssig
Kalibrierplatte mit Punkten und Quadraten
Kalibrierplatte mit Punkten und Quadraten
  • Zur Kalibrierung von Messsystemen
  • Positive und negative Muster auf Glas
  • Testbild mit hohem Kontrast für die Bildgebung mit Objekten von 0,5 bis 10 mm Durchmesser
  • NIST-Kalibrierungszertifikat ist im Lieferumfang enthalten
Zweiachsiges Mikrometer mit linearer Skala
Zweiachsiges Mikrometer mit linearer Skala
  • Zweiachsiges Design
  • Englische und metrische Skala
  • Variante mit NIST Zertifikat verfügbar
EO Mikrometer für die industrielle Bildverarbeitung
EO Mikrometer für die industrielle Bildverarbeitung
  • NIST Zertifikat inklusive
  • Ideal zur schnellen Kalibrierung von bildverarbeitenden Systemen
  • Stabile Aufbewahrungsbox inklusive
EO Telezentrietester
EO Telezentrietester
  • Wichtiges Werkzeug für jedes bildverarbeitende System mit dem Größen- und Abstandsmessungen durchgeführt werden
  • Kalibrierung von Objektiven aller Art
  • Deckt viele Vergrößerungen ab
Mikrometerchart zur Bildanalyse
Mikrometerchart zur Bildanalyse
  • Entwickelt zur Messkalibrierung
Kodak Testbild
Kodak Testbild
  • über 18 verschiedene Testmuster
  • Größe 8 ½" x 11"
Mikrometer mit Linien und Punkten
Mikrometer mit Linien und Punkten
  • Kalibrierung von Pixeldithering
  • Linien und Punkte von 2 μm bis 100 μm
  • Variante mit NIST Zertifikat verfügbar
Multifunktionskalibrierplatten für niedrige Vergrößerungen
Multifunktionskalibrierplatten für niedrige Vergrößerungen
  • Zur Kalibrierung von 0,08X bis 4X Systemen
  • Messung von MTF, Schärfentiefe, Auflösung, FOV und Verzeichnung
  • Kann zur Kalibrierung von transmittierenden oder reflektierenden Systemen eingesetzt werden
  • NIST Zertifikat inklusive
Multifunktionskalibrierungsplatten für hohe Vergrößerungen
Multifunktionskalibrierungsplatten für hohe Vergrößerungen
  • Entwickelt zur Kalibrierung von Messsystemen
  • Ideal für Mikroskope und Systeme der industriellen Bildverarbeitung
  • Beinhaltet konzentrische Kreise, Gitter, Strichgitter und lineare Mikroskala
  • Zwei Platten für verschiedene Vergrößerungen erhältlich
  • NIST zertifiziert
Mikrometer mit verschiedenen Gittern
Mikrometer mit verschiedenen Gittern
  • Bestimmung der Verzeichnung stark vergrößernder Systeme
  • Variante mit NIST Zertifikat verfügbar

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