Hochpräzise Strichgitter
- Chrom auf Glas
- Enge Toleranzen
- Besser als geätzte Strichgitter
- Linien parallel zur Kante
- Metrische und englische Versionen
Präzise Strichgitter auf Glasscheibchen
- Zur Bestimmung von Auflösung, Verzeichnung und Parfokalität
- Ideal für Strichplatten- und Bildfeldkalibrierung
- Erhältlich aus Floatglas, Quarzglas, Quarzglas mit fluoreszierender Rückseite und Opal
Verzeichnungstestbilder mit Punktgittern einer Frequenz
- Für Messung der Verzeichnung und Kalibration von Bildgebungssystemen
- Chrom auf Kalknatronglas oder Chrom auf weißem Glas
- NIST-Zertifikat inklusive
Ausverkauf
Kontaktstrichplatten zur Lochvermessung/Dickenmessung
Kontaktstrichplatten zur Lochvermessung/Dickenmessung
- Stabiler als Film
- Chrommuster mit geringer Reflexion
- Kompatibel mit 6X oder 9X Komparatoren
Kontaktstrichplatte, verschiedene Skalen
- Stabiler als Film
- Chrommuster mit geringer Reflexion
- Englische oder metrische Versionen
Strichplatten mit linearem Maßstab
- Stabiler als Film
- Chrommuster mit geringer Reflexion
- Englische oder metrische Versionen
USAF-1951-Auflösungstestbilder aus UV-Quarzglas (fluoreszierend und nicht fluoreszierend)
- Entwickelt zur Kalibrierung von UV- oder Fluoreszenzmikroskopen
- Fluoreszenztestbilder haben 365 nm Anregungswellenlänge und 550 nm Abstrahlwellenlänge
- Negative, positive und hochauflösende Testbilder erhältlich
Ausverkauf
Retikel für Durchlichtbeleuchtung mit Mikrometerskala - Fadenkreuz
Retikel für Durchlichtbeleuchtung mit Mikrometerskala - Fadenkreuz
- Designed for 1X Objective Power
- 5 or 10mm Scale
- 1.5mm Thickness
Kreisförmiges USAF-Auflösungschart
- Testet Auflösungen von 4 - 228 lp/mm
- Verkürzt die Testzeit
- Testet mehrere Punkte im Bildfeld
Kontaktstrichplatten mit Gitter
- Stabiler als Film
- Chrommuster mit geringer Reflexion
- Beschriftetes Gitter, englisch oder metrisch
Kontaktstrichplatten mit Fadenkreuz
- Stabiler als Film
- Chrommuster mit geringer Reflexion
- Fadenkreuz gestrichelt oder durchgezogen
Diffuse Verzeichnungstestbilder mit Punktgitter
- Diffuse Reflexion ähnlich wie bei Keramik
- Chrommuster auf Substrat
- Keine Spiegelungen bei axialer oder außeraxialer Beleuchtung
- Perfekt für Messungen mit Auflichtbeleuchtung
NBS 1963A Auflösungstestbild
- Negatives oder positives Muster (Chrombeschichtung ≥ 3,0 OD)
- Nach NBS Standard 1010A
- Frequenzbereich von 1 - 512 Linienpaaren/mm
Ausverkauf
Testbilder mit verschiedenen Frequenzen
Testbilder mit verschiedenen Frequenzen
- 5 lp/mm bis 120 lp/mm oder 5 lp/mm bis 200 lp/mm
- 1mm Schrittgröße
- 5 lp/mm Schritte
- Zur Kalibrierung von Bildaufnahmesystemen
- Auflösungsbestimmung
Kontaktstrichplatten mit kreisförmigen Skalen
- Stabiler als Film
- Chrommuster mit geringer Reflexion
- Gradbogen, Fadenkreuz oder konzentrische Quadrate
Neu
Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie
Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie
- Kleine Testmuster – 100 nm und 3.300 lp/mm
- Herstellung durch hochgenaue Elektronenstrahl-Lithographie
- Negative Muster
Testbilder mit Liniengitter
- Testen und Korrigieren von Verzeichnung in bildgebenden Systemen
- Kalibrierung perspektivischer Fehler von Mikroskopbühnen
- Messung des Bildfeldes
Kalibrierplatten mit Punkten und Quadraten
- Zur Kalibrierung von Messsystemen
- Positive und negative Muster auf Glas
- Testbild mit hohem Kontrast für die Bildgebung mit Objekten von 0,5 bis 10 mm Durchmesser
- NIST-Kalibrierungszertifikat ist im Lieferumfang enthalten
Präzise Strichgitter auf Opalglasscheibchen
- Chrom auf Opalglas
- Zur Bestimmung der Auflösung reflektierender Systeme
- Enge Toleranzen
Hochpräzise Strichgitter auf Opalglas
- Chrom auf Glas
- Enge Toleranzen
- Englische und metrische Versionen
Multifunktionskalibrierplatten für niedrige Vergrößerungen
- Zur Kalibrierung von 0,08X bis 4X Systemen
- Messung von MTF, Schärfentiefe, Auflösung, FOV und Verzeichnung
- Kann zur Kalibrierung von transmittierenden oder reflektierenden Systemen eingesetzt werden
- NIST-Zertifikat inklusive
Ausverkauf
EO Mikrometer für die industrielle Bildverarbeitung
EO Mikrometer für die industrielle Bildverarbeitung
- NIST Zertifikat inklusive
- Ideal zur schnellen Kalibrierung von bildverarbeitenden Systemen
- Stabile Aufbewahrungsbox inklusive
Multifunktions-Kalibrierungsplatten für hohe Vergrößerungen
- Entwickelt zur Kalibrierung von Messsystemen
- Ideal für Mikroskope und Systeme der industriellen Bildverarbeitung
- Beinhaltet konzentrische Kreise, Gitter, Strichgitter und lineare Mikroskala
- Zwei Platten für verschiedene Vergrößerungen erhältlich
- NIST-zertifiziert
Ausverkauf
EIA-Graukeildia
EIA-Graukeildia
- Videokalibrierung
- Beständiger Dichtestandard
- Evaluierung / Vergleich des Dynamikumfangs von Kameras
Ausverkauf
Strichplatten aus weiß-elfenbeinfarbigem Glas
Strichplatten aus weiß-elfenbeinfarbigem Glas
- Fadenkreuz, Strichgitter oder konzentrische Kreise
- Weiß-elfenbeinfarbiges Kalknatronglas
- Strichplatten mit 27 mm Durchmesser
Farbtestbilder
- Test der Farbbalance
- Enthält natürliche und chromatische Farben, Primärfarben und Grauskala
- 24 oder 30 speziell ausgewählte Farbfelder
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - beschriftetes Gitter
- Designed for 1X Objective Power
- Indexed Grid Pattern
- 19 or 21mm Diameter Reticles
Mikrometerplättchen
- Reticle Scales Centered on Microscope Slides
- Designed for Routine Calibration
- 1 x 3" Slide Sizes
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gitternetz
- Designed for 1X Objective Power
- Net Grid Squares over Entire Field
- 19 or 21mm Diameter Versions
Auflösungschart
- Astigmatismus-Test
- USAF-Testmuster in schwarz, rot, gelb und blau
- 6 Elemente in 6 Gruppen
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Fadenkreuz
- Designed for 1X Objective Power
- Crossline Pattern
- 19 or 21mm Diameter Versions
Mikrometercharts zur Bildanalyse
- Entwickelt zur morphologischen Kalibrierung und Messung
- 8 Testbereiche mit verschiedenen Mustern
- NIST-zertifizierte Versionen verfügbar
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