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Auflösungstestbilder

Resolution Test Targets are used to measure the accuracy or performance of an imaging system for applications such as microscopy or imaging. Resolution Test Targets are inserted into an imaging system to provide measurement capabilities. Resolution Test Targets use a variety of patterns including Ronchi or star to measure a system’s resolution. High precision models are also available for demanding or precise measurement requirements.

Edmund Optics offers a wide range of Resolution Test Targets suited for many imaging measurement needs. Resolution Test Targets provide the user the ability to easily measure the accuracy of an imaging system, extending a system’s lifecycle by maintaining its effectiveness after continued use or time. Star targets feature a circle of converging lines that measure resolution by determining how far an imaging system can distinguish individual lines. Ronchi targets similarly use a series of fine lines to measure an imaging system’s performance. Many Resolution Test Targets are available in both glass slide as well as photographic paper versions.

Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie Neu
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Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie
  • Kleine Testmuster – 100 nm und 3.300 lp/mm
  • Herstellung durch hochgenaue Elektronenstrahl-Lithographie
  • Negative Muster
1951 USAF Auflösungstestbild
1951 USAF Auflösungstestbild
  • 15 USAF Testbilder mit unterschiedlicher Dichte
  • Erlaubt Messung von Auflösungsvermögen für verschiedene Kontraststufen
1951 USAF Auflösungstestbilder aus Glas
1951 USAF Auflösungstestbilder aus Glas
  • Negative und positive Testbilder aus Glas
  • In Kiste verpackt, inkl. einer Wertetabelle
  • Testbild für hohe Auflösungen erhältlich (bis zu 645 lp/mm)
1951 USAF Auflösungstestbild
1951 USAF Auflösungstestbild
  • Testbilder mit 4:3 Seitenverhältnis, Auflösung kann als Funktion des Bildfeldes gemessen werden
  • Jedes Bild beinhaltet vier USAF-Testbilder mit unterschiedlichen Dichtewerten
Ausgestanztes USAF Testbild
Ausgestanztes USAF Testbild
  • Auflösungsbestimmung von Röntgenstrahlung, UV, thermischen und fern-IR Systemen
  • Einfache Montage
  • Ideal für Transmission
Hochpräzise Strichgitter
Hochpräzise Strichgitter
  • Chrom auf Glas
  • Enge Toleranzen
  • Besser als geätzte Strichgitter
  • Linien parallel zur Kante
  • Metrische und englische Versionen
I3A/ISO Auflösungstestbild
I3A/ISO Auflösungstestbild
  • Entspricht dem ISO 12233 Standard
  • Bietet Auflösungskalibrierung über das gesamte Bildfeld
  • Passend für S/W- und Farbkameras mit digitalem oder analogen Videosignal
  • Drei Größen verfügbar
IEEE Auflösungstestbild
IEEE Auflösungstestbild
  • Neuer Auflösungsstandard
  • Auflösungskalibrierung über das gesamte Bildfeld
  • Entwickelt um analoge bildgebende Systeme zu testen
NBS 1963A Auflösungstestbild
NBS 1963A Auflösungstestbild
  • Negatives oder positives Muster (Chrombeschichtung ≥ 3,0 OD)
  • Nach NBS Standard 1010A
  • Frequenzbereich von 1 - 512 Linienpaaren/mm
präzise Strichgitter auf Glasscheibchen
präzise Strichgitter auf Glasscheibchen
  • Chrom auf Glas
  • Zur Bestimmung von Auflösing reflektierender Systemen
  • Enge Toleranzen
Präzise Strichgitter auf Glasscheibchen
Präzise Strichgitter auf Glasscheibchen
  • Zur Bestimmung von Auflösung, Verzeichnung und Parfokalität
  • Ideal für Strichplatten- und Bildfeldkalibrierung
  • Erhältlich aus Floatglas, Quarzglas, Quarzglas mit fluoreszierender Rückseite und Opal
hochpräzise Strichgitter auf Opalglas
hochpräzise Strichgitter auf Opalglas
  • Chrom auf Glas
  • Enge Toleranzen
  • Englishe und metrische Versionen
Sinusförmige Testmuster
Sinusförmige Testmuster
  • Entwickelt für die Bestimmung der MTF
  • Bestimmung der Bildqualität von bildgebenden Komponenten
Siemensstern
Siemensstern
  • Ideal für die Detektion von Fokussierfehlern und Astigmatismus
  • 0,6 bis 14 lp/mm Keilabstand
  • Erhältlich auf weißem Photopapier oder Chrom auf Glas
Siemenssternmatrix
Siemenssternmatrix
  • Detektion von Abberationen an verschiedenen Bildstellen
USAF 1951 und Punktraster
USAF 1951 und Punktraster
  • USAF 1951 Element 0-3 (14 LP/mm)
  • Punktraster mit 2mm Abstand
  • 2” x 2.75”
Kreisförmiges USAF Auflösungschart
Kreisförmiges USAF Auflösungschart
  • Testet Auflösungen von 4 - 228 lp/mm
  • Verkürzt die Testzeit
  • Testet mehrere Punkte im Bildfeld
UV Quarzglas & fluoreszierende 1951 USAF Auflösungstestbilder
UV Quarzglas & fluoreszierende 1951 USAF Auflösungstestbilder
  • Entwickelt zur Kalibrierung von UV- oder Fluoreszenzmikroskopen
  • Fluoreszenztestbilder haben 365 nm Anregungswellenlänge und 550 nm Abstrahlwellenlänge
  • Negative, positive und hochauflösende Testbild erhältlich
Testbilder mit verschiedenen Frequenzen
Testbilder mit verschiedenen Frequenzen
  • 5 lp/mm bis 120 lp/mm oder 5 lp/mm bis 200 lp/mm
  • 1mm Schrittgröße
  • 5 lp/mm Schritte
  • Zur Kalibrierung von Bildaufnahmesystemen
  • Auflösungsbestimmung

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