Testcharts für die Mikroskopie

Testcharts für die Mikroskopie dienen zur Messung der Genauigkeit und der Leistung eines Systems bei Bildverarbeitungs- und Mikroskopieanwendungen. Die Testcharts verwenden die verschiedensten Muster, beispielsweise ein Strichgitter oder einen Siemensstern zur Messung der Systemauflösung. Die meisten Testcharts sind für die industrielle Bildverarbeitung entwickelt worden, Testcharts für die Mikroskopie dagegen ausschließlich für Messungen und Anwendungen in der Mikroskopie.

Edmund Optics bietet Testcharts zur Bestimmung der Verzeichnung für die hochauflösende Mikroskopie an. Diese hochauflösenden Testcharts sind für Mikroskopiesysteme mit hohen Vergrößerungen geeignet und haben die Abmessungen eines konventionellen Mikroskop-Objektträgers.

Neu

Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie

Kleine Testmuster – 100 nm und 3.300 lp/mm
Herstellung durch hochgenaue Elektronenstrahl-Lithographie
Negative Muster

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - konzentrische Kreise

Designed for 1X Objective Power
Concentric Circle Pattern
B270 Substrate

Ausverkauf

Retikel für Durchlichtbeleuchtung mit Mikrometerskala - Fadenkreuz

Designed for 1X Objective Power
5 or 10mm Scale
1.5mm Thickness

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Fadenkreuz

Designed for 1X Objective Power
Crossline Pattern
19 or 21mm Diameter Versions

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - horizontale Mikrometerskala

Designed for 1X Objective Power
1, 5, or 10mm Scale Versions
0.1 or 0.5 Inch Scale Versions

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - beschriftetes Gitter

Designed for 1X Objective Power
Indexed Grid Pattern
19 or 21mm Diameter Reticles

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gitternetz

Designed for 1X Objective Power
Net Grid Squares over Entire Field
19 or 21mm Diameter Versions

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gradbogen

Bieten eine stabile Plattform für Experimente und Testkonfigurationen
1/4-20 TPI- oder M6-Gewindebohrungen für vielseitige Montagemöglichkeiten verfügbar
Schwarz eloxiertes Aluminium

Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten

Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
Image Sizes from 0.1 to 20mm
Available with NIST Traceable Data

Mikrometerplättchen

Reticle Scales Centered on Microscope Slides
Designed for Routine Calibration
1 x 3" Slide Sizes