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Testcharts für die Mikroskopie

Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie Neu
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Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie
  • Kleine Testmuster – 100 nm und 3.300 lp/mm
  • Herstellung durch hochgenaue Elektronenstrahl-Lithographie
  • Negative Muster

Informationen zum Thema Testcharts für die Mikroskopie  

Testcharts für die Mikroskopie dienen zur Messung der Genauigkeit und der Leistung eines Systems bei Bildverarbeitungs- und Mikroskopieanwendungen. Die Testcharts verwenden die verschiedensten Muster, beispielsweise ein Strichgitter oder einen Siemensstern zur Messung der Systemauflösung. Die meisten Testcharts sind für die industrielle Bildverarbeitung entwickelt worden, Testcharts für die Mikroskopie dagegen ausschließlich für Messungen und Anwendungen in der Mikroskopie.

Edmund Optics bietet Testcharts zur Bestimmung der Verzeichnung für die hochauflösende Mikroskopie an. Diese hochauflösenden Testcharts sind für Mikroskopiesysteme mit hohen Vergrößerungen geeignet und haben die Abmessungen eines konventionellen Mikroskop-Objektträgers.


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