Strichplatten oder Objektivmikrometer

Mit Strichplatten erhalten diverse Mikroskope eine zusätzliche Mess- oder Vergleichsfunktion. Strichplatten sind Klarscheiben, die mit einer Skala oder einem Muster versehen sind. Strichplatten sind mit verschiedensten Mustern erhältlich, beispielsweise mit Fadenkreuz, Mikrometerskala oder Rastermuster. Mikrometerplättchen sind auch zur Kalibrierung von Mikroskopstrichplatten oder zur Kalibrierung der Brechkraft von Objektiven erhältlich.

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - konzentrische Kreise

Designed for 1X Objective Power
Concentric Circle Pattern
B270 Substrate

Ausverkauf

Retikel für Durchlichtbeleuchtung mit Mikrometerskala - Fadenkreuz

Designed for 1X Objective Power
5 or 10mm Scale
1.5mm Thickness

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Fadenkreuz

Designed for 1X Objective Power
Crossline Pattern
19 or 21mm Diameter Versions

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - horizontale Mikrometerskala

Designed for 1X Objective Power
1, 5, or 10mm Scale Versions
0.1 or 0.5 Inch Scale Versions

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - beschriftetes Gitter

Designed for 1X Objective Power
Indexed Grid Pattern
19 or 21mm Diameter Reticles

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gitternetz

Designed for 1X Objective Power
Net Grid Squares over Entire Field
19 or 21mm Diameter Versions

Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gradbogen

Bieten eine stabile Plattform für Experimente und Testkonfigurationen
1/4-20 TPI- oder M6-Gewindebohrungen für vielseitige Montagemöglichkeiten verfügbar
Schwarz eloxiertes Aluminium

Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten

Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
Image Sizes from 0.1 to 20mm
Available with NIST Traceable Data

Mikrometerplättchen

Reticle Scales Centered on Microscope Slides
Designed for Routine Calibration
1 x 3" Slide Sizes