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Interferometrie-Fenster

Kategorie
    Oberflächenebenheit
    Durch-
    messer (mm)
    to
    Dicke (mm)
    to
    Substrat
    Optische Planplatten - Einseitig
    TECHSPEC® components are designed, specified, or manufactured by Edmund Optics. Learn More
    Optische Planplatten - Einseitig
    • Mit Durchmessern von 0,5 Inch - 12 Inch
    • Jede λ/20 Planplatte ab 75 mm wird mit Kalibrierzertifikat geliefert
    • Lieferbar mit Standardmetallspiegelbeschichtungen: λ/10 und λ/20
    Korrekturplatten für sphärische Aberration
    TECHSPEC® components are designed, specified, or manufactured by Edmund Optics. Learn More
    Korrekturplatten für sphärische Aberration
    • Präzises N-BK7 Substrat
    • Optimiert für den Einsatz bei kollimiertem Strahl und kleinem Bildfeld
    • Genauigkeit der transmittierten Wellenfront λ/16
    Präzise optische Planplatten – Beidseitig
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    Präzise optische Planplatten – Beidseitig
    • Ebenheit wahlweise λ/10 und λ/20
    • Die λ/20 Planplatten mit einem Durchmesser von 76,2 mm oder größer werden mit Kalibrierzertifikat geliefert
    • Verlängerte Lebensdauer bei Kontaktmessungen
    • Einseitige optische Planplatten ebenfalls lieferbar
    Optische Planplatten mit einer Oberflächengenauigkeit von λ/20 Neu
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    Optische Planplatten mit einer Oberflächengenauigkeit von λ/20
    • Genauigkeit λ/20
    • Kompatibel mit vielen Gehäusen mit Bajonett-Verschluss
    • Interferogramm und Kalibrierzertifikat enthalten

    Informationen zum Thema Interferometrie-Fenster  

    Interferometrie-Fenster dienen zur Messung der Ebenheit von optischen Grenzflächen oder bestimmten Optikkomponenten, um die Genauigkeit für viele Anwendungen der Qualitätssicherung oder Inspektionen sicherzustellen. Interferometrie-Fenster sind optische Grenzflächen, die mit einer extrem hohen Ebenheit poliert wurden und als Referenzplatten verwendet werden. Interferometer-Fenster werden auf die zu prüfenden Flächen in einem bestimmten Winkel aufgelegt. Danach wird ein Laserstrahl zwischen diese Flächen gerichtet und die Ebenheit durch Messung der Interferenzbänder bestimmt. Es sind sowohl Interferometrie-Fenster mit einer als auch mit zwei Grenzflächen erhältlich.


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