Testcharts in Objektträgerform für hochauflösende Mikroskopie
- Kleine Testmuster – 100 nm und 3.300 lp/mm
- Herstellung durch hochgenaue Elektronenstrahl-Lithographie
- Negative Muster
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - konzentrische Kreise
- Designed for 1X Objective Power
- Concentric Circle Pattern
- B270 Substrate
Retikel für Durchlichtbeleuchtung mit Mikrometerskala - Fadenkreuz
- Designed for 1X Objective Power
- 5 or 10mm Scale
- 1.5mm Thickness
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Fadenkreuz
- Designed for 1X Objective Power
- Crossline Pattern
- 19 or 21mm Diameter Versions
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - horizontale Mikrometerskala
- Designed for 1X Objective Power
- 1, 5, or 10mm Scale Versions
- 0.1 or 0.5 Inch Scale Versions
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - beschriftetes Gitter
- Designed for 1X Objective Power
- Indexed Grid Pattern
- 19 or 21mm Diameter Reticles
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gitternetz
- Designed for 1X Objective Power
- Net Grid Squares over Entire Field
- 19 or 21mm Diameter Versions
Retikel für Durchlichtbeleuchtung - Gradbogen
- Bieten eine stabile Plattform für Experimente und Testkonfigurationen
- 1/4-20 TPI- oder M6-Gewindebohrungen für vielseitige Montagemöglichkeiten verfügbar
- Schwarz eloxiertes Aluminium
Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten
- Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
- Image Sizes from 0.1 to 20mm
- Available with NIST Traceable Data
Mikrometerplättchen
- Reticle Scales Centered on Microscope Slides
- Designed for Routine Calibration
- 1 x 3" Slide Sizes
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