• Land/Region
  •   
 
ID ProduktfamilieDie ID der Produktfamilie kann in das Suchfenster kopiert werden, um schnell die gewünschte Produktfamilie zu finden. #2826

Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten

  • Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
  • Image Sizes from 0.1 to 20mm
  • Available with NIST Traceable Data

Unsere Mikrometer zur Kalibrierung von Strichplatten zeigen eine Reihe von H-förmigen Bildern in den Größen 0,1mm bis 20mm. Das Mikrometer hat eine haltbare Chrombeschichtung mit einer optischen Dichte >2 auf einem Substrat mit 25mm x 75mm x 1,4mm Größe. Das Mikrometer ist mit NIST nachweisbaren Testdaten erhältlich.

Technische Informationen

 
Pattern Length (mm) Pattern Height (mm) Line Width (μm)
0.10, 0.25, 0.50, 0.75 0.50 10
1.00, 2.50, 5.00, 7.50 1.00 20
10.0, 15.0, 20.0 3.00 40

Angebot erwünscht? Bitte geben Sie eine Artikelnummer ein.

Edmund Optics Facebook Edmund Optics Twitter Edmund Optics YouTube Edmund Optics LinkedIn Edmund Optics Instagram



EO IST MITGLIED VON:

Spectaris Optence Photonics21 Epic EMVA EOS Photonics France

×