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Mikrometer mit Linien und Punkten


  • Kalibrierung von Pixeldithering
  • Linien und Punkte von 2 μm bis 100 μm
  • Variante mit NIST Zertifikat verfügbar

Die Mikrometer mit Linien und Punkten auf Objektträgern wurde zur Kalibrierung von bildverarbeitenden Systemen in anspruchsvollen Anwendungen entwickelt. Das Muster enthält Punkte und Linien in den Größen 2 μm, 3 μm, 4 μm, 5 μm, 6 μm, 7 μm, 8 μm, 9 μm, 10 μm, 25 μm, 50 μm, 75 μm und 100 μm. Kalibrierungen mit diesem Mikrometer können Ditheringeffekte in bildgebenden Prozessen und Algorithmen verringern. Das Testmuster ist als Chrom auf Glas oder Chrom auf weißem Opalglas verfügbar.

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