60X-Objektiv S Plan Fluor ELWD

• Extralanger Arbeitsabstand (ELWD)
• Breiter spektraler Durchlassgrad
• Vielfältige Beobachtungsmodi

Die Nikon CFI S Plan Fluor ELWD-Objektive sind mit einem extra langen Arbeitsabstand ausgestattet, um eine hochauflösende Darstellung großer Proben und Kulturgefäße mit unterschiedlichen Dicken zu ermöglichen. Mit ihrer breiten spektralen Durchlässigkeit vom nahen Ultraviolett bis zum nahen Infrarot ermöglichen diese Objektive eine vielseitige Abbildung mit verschiedenen modernen Mikroskopietechniken. Diese Objektive erlauben eine größere Flexibilität und schützen empfindliche Proben während der Beobachtung, da keine Immersionsmedien erforderlich sind. Nikon CFI S Plan Fluor ELWD-Objektive sind in verschiedenen Vergrößerungen erhältlich und unterstützen gängige Beobachtungsarten wie Hellfeld- und Dunkelfeldmikroskopie, DIK-Mikroskopie, Phasenkontrast- und Polarisationsmikroskopie. Diese Objektive sind ideal für allgemeine Fluoreszenz-, Hellfeld-, Calcium-Imaging- und DIC-Anwendungen.