Olympus LCPLN100XIR 100X NIR-Objektiv

Name: Olympus LCPLN100XIR 100X NIR-Objektiv
Brand: Olympus
SKU: 90-484
Price: €11.554,00 EUR

Mehr Produkte von Olympus

Olympus LCPLN100XIR 100X NIR Objective

Produkt #90-484 Neu Kontakt

- +

€11.554,00

Mengenrabatte
Stk. 1+	€11.554,00 stückpreis
Need More?	Angebotsanfrage

Preise exklusiv der geltenden Mehrwertsteuer und Abgaben

+ Merkliste
Erstellen Sie einen Account oder melden Sie sich an, um auf gespeicherte Listen zuzugreifen.

Vergleichen

Downloadbereich

Spezifikationen

Produktdetails

Modellnummer:

LCPLN100XIR

Kompatible Tubuslinsenbrennweite (mm):

Focal Length: 180mm

Typ:

Microscope Objective

Art:

Infinity Corrected

Hersteller:

Olympus

Physikalische und mechanische Eigenschaften

Bildfeld (mm):

0.22

Länge ohne Gewinde (mm):

43.80

Max. Durchmesser (mm):

31.00

Gewicht (g):

184

Optische Eigenschaften

Kompatible Deckglasdicke (mm):

Glass: 0 - 0.7mm
Silicon: 0 - 1.0mm

Brennweite BW (mm):

1.80

Vergrößerung:

100X

Numerische Apertur NA:

0.85

Auflösung (μm):

0.39

Tiefenschärfe (μm):

0.38

Arbeitsabstand (mm):

Glass: 1.20 - 0.90mm
Silicon: 1.20 - 1.05mm

Wellenlängenbereich (nm):

400 - 1600

Feldzahl:

Parfokallänge (mm):

Immersionsflüssigkeit:

N/A

Gewinde & Montage

Gewinde:

RMS / 20.32mm x 36 TPI

Konformität mit Standards

Konformitätszertifikat:

Anzeigen

Produktdetails

Lange Arbeitsabstände reduzieren das Risiko, die Proben zu beschädigen
Korrekturring zur Anpassung an die Probendicke
Ideal für die Inspektion von Siliziumwafern

Olympus plan-achromatische Objektive für den Nahinfrarotbereich bieten eine hohe Transmission zwischen 700 und 1600 nm, was sie in Verbindung mit einer NIR-Tubuslinse zu einer hervorragenden Wahl für die Nahinfrarot-Mikroskopie macht. Diese Objektive zeichnen sich durch große Arbeitsabstände aus, was das Risiko, Proben zu beschädigen, verringert. Sie unterstützen Beobachtungen bis zur Sehfeldzahl 22. Vergrößerungen von 20X und höher verfügen über einen Korrekturring, um Aberrationen in Abhängigkeit von der Dicke des zu prüfenden Glas- oder Siliziumsubstrats zu korrigieren. Olympus plan-achromatische Objektive für den Nahinfrarotbereich sind ideal für die Inspektion von Silizium-Wafern geeignet, um die innere Struktur auf Defekte zu untersuchen.