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ID ProduktfamilieDie ID der Produktfamilie kann in das Suchfenster kopiert werden, um schnell die gewünschte Produktfamilie zu finden. #2699

Mikrometer mit Linien und Punkten

Kalibrierung von Pixeldithering
Linien und Punkte von 2 μm bis 100 μm
Variante mit NIST Zertifikat verfügbar

Die Mikrometer mit Linien und Punkten auf Objektträgern wurde zur Kalibrierung von bildverarbeitenden Systemen in anspruchsvollen Anwendungen entwickelt. Das Muster enthält Punkte und Linien in den Größen 2 μm, 3 μm, 4 μm, 5 μm, 6 μm, 7 μm, 8 μm, 9 μm, 10 μm, 25 μm, 50 μm, 75 μm und 100 μm. Kalibrierungen mit diesem Mikrometer können Ditheringeffekte in bildgebenden Prozessen und Algorithmen verringern. Das Testmuster ist als Chrom auf Glas oder Chrom auf weißem Opalglas verfügbar.

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