19,1 mm Durchm., 532 nm Nd:YAG Strahl-Sampler für Laserlinien

TECHSPEC® Nd:YAG Laser Line Beam Samplers

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Durch-
messer (mm):

19.10 +0.00/-0.10

Beschichtung:

Laser V-Coat (532nm)

Beschichtungsspezifikation:

R_abs <0.25% @ 532nm

Dicke (mm):

6.35 ±0.20

Einfallswinkel (°):

0 ±5

Designwellenlänge DWL (nm):

532

Substrat:

Fused Silica (Corning 7980)

Oberflächenebenheit:

λ/10

Oberflächenqualität:

10-5

Freie Apertur (%):

Laserzerstörschwelle, gepulst:

10 J/cm² @ 532nm, 20ns, 20Hz

Typ:

Beam Sampler

Parallelität (Bogenminuten):

Konformität mit Standards

RoHS 2015:

Konform

Reach 209:

Konform

Beschreibung Produktfamilie

Unbeschichtete erste Oberfläche erlaubt Fresnel-Reflexion
Beschichtung für hohe Laserzerstörschwelle auf einer Oberfläche
10-5 Oberflächenqualität

Nd:YAG Strahl-Sampler für Laserlinien werden verwendet, um einen kleinen Teil eines einfallenden Laserstrahls durch Fresnel-Reflexion an der unbeschichteten Oberfläche für Strahlüberwachungszwecke abzusplitten. Diese Strahl-Sampler zeichnen sich durch physikalische Hochleistungseigenschaften für minimale Auswirkungen auf den transmittierten Strahl wie 10-5 Oberflächenqualität und λ/10 Oberflächenebenheit aus. Eine Antireflex-Beschichtung mit einer hohen Zerstörschwelle auf der zweiten Oberfläche begrenzt Geisterreflexionen. Nd:YAG Strahl-Sampler für Laserlinien bestehen aus UV-Quarzglas und bieten eine ausgezeichnete Transmission von UV bis IR sowie einen geringen thermischen Ausdehnungskoeffizienten. Strahl-Sampler mit Antireflex-Laserlinienbeschichtungen für die Wellenlängen 266 nm, 355 nm, 532 nm und 1064 nm sind verfügbar.

Hinweis: Nd:YAG Strahl-Sampler für Laserlinien können zusammen mit Lasermesstechnikprodukten für die Echtzeitüberwachung von Strahleigenschaften wie Strahlleistung und Strahlprofil verwendet werden.