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Nd:YAG-Strahl-Sampler für Laserlinien, 25,4 mm Durchm., 532 nm

TECHSPEC® Nd:YAG Laser Line Beam Samplers

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Produkt #39-010 3-4 Tage
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Einfallswinkel (°):
0 ±5
Freie Apertur (%):
90
Beschichtung:
Laser V-Coat (532nm)
Beschichtungsspezifikation:
Rabs <0.25% @ 532nm
Designwellenlänge DWL (nm):
532
Durchmesser (mm):
25.40 +0.00/-0.10
Brechungsindex nd:
1.458
Parallelität (Bogenminuten):
<3
Substrat: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More
Fused Silica (Corning 7980)
Oberflächenebenheit (P-V):
λ/10
Oberflächenqualität:
10-5
Dicke (mm):
6.35 ±0.20
Typ:
Beam Sampler
Zerstörschwelle, laut Design: Damage threshold for optical components varies by substrate material and coating. Click here to learn more about this specification.
10 J/cm2 @ 532nm, 20ns, 20Hz

Konformität mit Standards

RoHS 2015:
Reach 209:
Konformitätszertifikat:

Beschreibung Produktfamilie

  • Unbeschichtete erste Oberfläche erlaubt Fresnel-Reflexion
  • Beschichtung mit hoher Laserzerstörschwelle auf einer Oberfläche
  • 10-5 Oberflächenqualität

Nd:YAG-Strahl-Sampler für Laserlinien werden verwendet, um einen kleinen Teil eines einfallenden Laserstrahls durch Fresnel-Reflexion an der unbeschichteten Oberfläche für Strahlüberwachungszwecke abzusplitten. Die Strahl-Sampler zeichnen sich durch physikalische Hochleistungseigenschaften für minimale Auswirkungen auf den transmittierten Strahl wie 10-5 Oberflächenqualität und λ/10 Oberflächenebenheit aus. Eine Antireflexbeschichtung mit einer hohen Zerstörschwelle auf der zweiten Oberfläche begrenzt Geisterreflexionen. Nd:YAG-Strahl-Sampler für Laserlinien bestehen aus UV-Quarzglas und bieten eine ausgezeichnete Transmission von UV bis IR sowie einen geringen thermischen Ausdehnungskoeffizienten. Die Strahl-Sampler sind mit Antireflex-Laserlinienbeschichtungen für die Wellenlängen 266 nm, 355 nm, 532 nm und 1064 nm verfügbar.

Hinweis: Nd:YAG-Strahl-Sampler für Laserlinien können zusammen mit Lasermesstechnikprodukten für die Echtzeitüberwachung von Strahleigenschaften wie Strahlleistung und Strahlprofil verwendet werden.

Laser Line Beam Sampler
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