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Alle 27 Produkte der Produktfamilie
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Objektiv der LS-Serie für Zeilenkameras, 1,75X

LS Series Line Scan Lenses
TECHSPEC® LS Series Line Scan Lenses

LS Series Line Scan Lenses

TECHSPEC® LS Series Line Scan Lenses

Lager #35-441
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Vergrößerung PMAG:
1.65X - 1.85X
Max. Sensorgröße:
82mm
Optimiert für Sensorgröße:
62.5mm
Horizontales Bildfeld @ max. Sensorformat:
46.9mm
Numerische Apertur NA:
0.097
Blende (f/#):
f/3.2 - f/22
Relative Beleuchtung:
>97%
Arbeitsabstand (mm):
65.9
Gesamtlänge Objekt - Bild (mm):
379.60
Brennweite FL (mm):
99.00
Anzahl Elemente (Gruppen):
12 (7)
Bildfeld, 82 mm Sensor:
46.9mm
Bildfeld, 62,5 mm Sensor:
35.7mm
Bildfeld, 28,7 mm Sensor:
16.4mm
Beschichtung:
425 - 675 BBAR VIS
Beschichtungsspezifikation:
425 - 675nm BBAR
Gewinde:
V-70 Mount
Max. Durchmesser (mm):
95
Länge (mm):
122.00
Gewindedurchmesser (mm):
75
Strahlteiler / Zeilenscan:
Yes
Typ:
Line Scan
Gewicht (g):
1122
Hinweis:
Beamsplitter is included. Length includes beamsplitter. Specifications are at primary magnification.
Bildfeld, 57,7 mm Sensor:
33mm
Maximale Verzeichnung:
0.05

Konformität mit Standards

RoHS:

Beschreibung Produktfamilie

  • Hohe Auflösung, geringe Verzeichnung, Gleichförmigkeit über gesamtes Bildfeld
  • Für Zeilensensoren mit bis zu 16k und 5 µm Pixelgröße
  • V-70-Anschluss für 82 mm Zeilensensor
  • Kompatibel mit den Sensoren 12k, 5 µm, 62,5 mm und 16k, 3,5 µm, 57,7 mm

TECHSPEC® Zeilenkameraobjektive mit Festbrennweite der LS-Serie sind Objektive mit geringer Verzeichnung für 16k-Zeilenkameras mit 82 mm Breite und 5 µm Pixelgröße und 12k-Zeilenkameras mit 62,5 mm Breite und 5 µm Pixelgröße. Die Objektive sind für die koaxiale In-Line-Beleuchtung mit Strahlteiler für Zeilensensoren oder mit Fenster für Flächensensoren erhältlich. Die feststellbare Blende ist von f/2,9 bis f/22 einstellbar. Der V-Mount bietet eine einfache Einstellung und Ausrichtung. Die gleichmäßige und hochauflösende Leistung über das gesamte Bild hinweg macht die TECHSPEC® Zeilenkameraobjektive mit Festbrennweite der LS-Serie ideal für Anwendungen wie Elektronik-, Flachbildschirm- und Halbleiterwaferinspektionen.

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