Messtechnik

Nicht messbar bedeutet nicht herstellbar

Edmund Optics^® setzt verschiedenste modernste Messtechniken ein, um sicherzustellen, dass alle Spezifikationen erfüllt werden. Unsere Messtechniken im Fertigungsprozess beinhalten die Cavity-Ring-Down-Spektroskopie, Weißlichtinterferometrie, kontaktlose 3D-Profilometrie und viele weitere. Ein hausinternes Lasertestlabor ermöglicht die interne Prozessoptimierung und Überprüfung der Laserzerstörschwelle.

Technologien

SCHLÜSSELTECHNOLOGIE

Interferometrie mit kurzer Kohärenzlänge

Spezielle LED-Quelle zur Messung von parallelen, flachen Oberflächen bei gleichzeitiger Minimierung von Reflexionen an der hinteren Oberfläche

Keine spezielle Behandlung der Rückseite erforderlich, wodurch die Messzeit, das Risiko einer Beschädigung des Teils und das Risiko ungenauer Messungen minimiert werden

Ideal für die Messung von beidseitig beschichteten Optiken wie IBS-beschichteten Spiegeln mit spannungskompensierenden Beschichtungen auf der Rückseite

SCHLÜSSELTECHNOLOGIE

Photothermische Common-Path-Interferometrie

Genaue Messung der Absorption zur besseren Charakterisierung der spektralen Eigenschaften von optischen Beschichtungen und Substraten

Pump-Probe-Aufbau misst die Änderung des Brechungsindizes aufgrund der durch die Absorption verursachten Wärmeausdehnung

Empfindlichere und genauere Absorptionsmessung bei sehr geringen Absorptionsgraden als Spektralphotometer, die die Absorption indirekt durch direkte Messung der Transmission bestimmen

SCHLÜSSELTECHNOLOGIE

Messtechnik für Laseroptik-Baugruppen

Hausinterne Tests zur Vermessung der Assemblierung

Transmittierter Wellenfrontfehler

Laserstrahlprofilmessung

Messung von Power-in-the-Bucket und Energy-on-Target

Entwicklung von anwendungsspezifischen Tests

SCHLÜSSELTECHNOLOGIE

Prüfung von UV-Ermüdung und laserinduzierter Verunreinigung

Eigenes Laserlabor zur Durchführung von Langzeitexperimenten mit UV-Laserbestrahlung

Laserinduzierte Schäden sind ein Hauptproblem bei UV-Lasersystemen

Verunreinigungen aus der Umwelt oder Ausgasungen können die Leistung erheblich beeinträchtigen oder zu Systemausfällen führen

Genaue Kenntnis der Reinigungs- und Montagetechniken zur Abschwächung dieser Auswirkungen

Spektrophotometrie

Wird zur Charakterisierung der spektralen Reflexion und Transmission verwendet
Breiter Spektralmessbereich von 120 nm - 20 μm
Messungen des Transmissions- und Blockungsbereichs bis OD 7 für eine genaue Bestimmung von Transmissions- und Blockungsbereich

Interferometrie

Messung der transmittierten und reflektierten Wellenfront bis zu <λ/20
Stitching, große und kleine Apertur und computergenerierte Hologrammaufbauten
Wird zur Analyse der Oberflächenunregelmäßigkeit von Flächen, sphärischen und asphärischen Komponenten und optischen Komponenten verwendet

Tests der laserinduzierten Zerstörschwelle (LDT)

Sowohl hausinterne als auch externe Prüfung für garantierte LDT
Eigenes Labor mit Nd:YAG-Nanosekundenlaser bei 1064 nm und den Harmonischen (532 nm und 355 nm) mit hoher Leistung
Andere Wellenlängen und Pulsdauern verfügbar
Testdaten auf Anfrage erhältlich

Cavity-Ring-Down-Spektroskopie (CRDS)

Hochpräzise Verlustmessungen mit einer Empfindlichkeit im Parts-per-Million-Bereich
Abgestimmt auf die gängigen Nd:YAG-Harmonischen, andere Wellenlängen auf Anfrage möglich
Präzise Quantifizierung sowohl von hoch- als auch von niedrigreflektierenden Laseroptiken

Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Hochpräzise Charakterisierung der Oberflächenrauheit sowie der Merkmalsgrößen und -positionen
Laterale Auflösung bis zu 3 nm
Vertikale Auflösung bis zu 0,1 nm

Differentielle Interferenzkontrastmikroskopie (DIC)

Hochsensible Fehlererkennung bei transmissiven Materialien
Wird zum Nachweis von Laserschäden in optischen Beschichtungen und Substraten verwendet
100fache Vergrößerung zur Analyse von Oberflächen

Charakterisierung der Ultrakurzpulsdispersion

Präzise Messung der Gruppenverzögerungsdispersion (GDD) von mehrschichtigen Ultrakurzpulsoptiken
Sehr breitbandiger Spektralbereich von 250 nm bis 2100 nm
Eine GDD-Genauigkeit von ±5 fs² bei Einfallswinkeln zwischen 0-70°