Mikrometer mit Linien und Punkten, NIST zertifiziert

Beschreibung Produktfamilie

• Neue Version aus Opalglas verfügbar
• Kalibrierung von Pixeldithering
• Linien und Punkte von 2 μm bis 100 μm

Die Mikrometer mit Linien und Punkten auf Objektträgern wurde zur Kalibrierung von bildverarbeitenden Systemen in anspruchsvollen Anwendungen entwickelt. Das Muster enthält Punkte und Linien in den Größen 2 μm, 3 μm, 4 μm, 5 μm, 6 μm, 7 μm, 8 μm, 9 μm, 10 μm, 25 μm, 50 μm, 75 μm und 100 μm. Kalibrierungen mit diesem Mikrometer können Ditheringeffekte in bildgebenden Prozessen und Algorithmen verringern. Das Testmuster ist als Chrom auf Glas oder Chrom auf weißem Opalglas verfügbar.